優(yōu)勢產(chǎn)品:燒結(jié)銀、無壓燒結(jié)銀,有壓燒結(jié)銀,半燒結(jié)納米銀膏、導(dǎo)電膠、導(dǎo)電銀漿、導(dǎo)電油墨、銀/氯化銀、納米銀漿、可拉伸銀漿、燒結(jié)銀膜、納米焊料鍵合材料、UV銀漿、光刻銀漿、UV膠、導(dǎo)熱絕緣膠、DTS預(yù)燒結(jié)銀焊片、導(dǎo)電銀膜、銀玻璃膠粘劑,納米銀墨水、納米銀膠、納米銀膏、可焊接低溫銀漿、高導(dǎo)熱銀膠、導(dǎo)電膠等產(chǎn)品,擁有完善的納米顆粒技術(shù)平臺,金屬技術(shù)平臺、樹脂合成技術(shù)平臺、同位合成技術(shù)平臺,粘結(jié)技術(shù)平臺等。
SiC 功率模塊無壓低溫銀燒結(jié)雙面冷卻制造工藝
一 SIC封裝創(chuàng)新思路
針對引線封裝存在的可靠性問題,善仁新材創(chuàng)研中心提出平面封裝型SiC電力電子器件封裝策略。 該封裝策略采用引線框架代替?zhèn)鹘y(tǒng)的鍵合引線,并通過AS9330納米銀焊膏實現(xiàn)器件與基板和門極/源極引線框架的無壓低溫互連。 低溫?zé)o壓銀燒結(jié)SiC功率模塊可穩(wěn)定工作在250 ℃,-55~ 250 ℃的高低溫老化沖擊實驗200個周期沒有發(fā)生失效。
在此基礎(chǔ)上,針對SiC電力電子器件高溫 和高頻特性可能帶來的可靠性問題,有學(xué)者開展了高散熱雙面冷卻封裝集成策略研究,該封裝設(shè)計中高導(dǎo)熱的無氧銅塊代替了傳統(tǒng)的引線互連,并采用無壓銀燒結(jié)方法完成雙面冷卻結(jié)構(gòu)模塊的封裝。
這種雙面冷卻封裝結(jié)構(gòu)較大限度地縮短了高溫 SiC 器件的散熱和電氣互連路徑,能夠有效提高模塊的功率集成度的同時減小封裝雜散電感,這有助于充分發(fā)揮擁有高功率密度的 SiC 器件的高頻和高溫優(yōu)勢。 相比Si器件,由于SiC器件有著更高的楊氏模量和工作溫度使得引線鍵合界面更容易發(fā)生疲勞失效,而雙面冷卻封裝結(jié)構(gòu)能夠有效的消除引線鍵合界面失效的潛在風(fēng)險。 然而,由于雙面冷卻封裝中SiC器件兩側(cè)均受到基板約束,在服役過程中將承受更大的熱-機(jī)械應(yīng)力。 為減小這種封裝應(yīng)力,低CTE的鉬片用于補(bǔ)償SiC 基器件源區(qū)一側(cè)基板引入的高附加應(yīng)力,低楊氏模量的燒結(jié)銀連接界面用于緩沖SiC基器件漏區(qū)一側(cè)基板給器件帶來的封裝應(yīng)力。
為了驗證此策略,使用1200V/400A車用SiC功率模塊的低應(yīng)力封裝工藝,此器件的燒結(jié)面積4.4 mm×4.0 mm,鉬片厚度為1.5 mm,氧化鋁襯底基板的厚度為1.2 mm。 兩側(cè)基板均采用AS9330低溫?zé)o壓銀燒結(jié)技術(shù)以實現(xiàn)器件和鉬片的互連,燒結(jié)后形成器件-基板組件和鉬片-基板組件結(jié)構(gòu)連接,燒結(jié)后兩組組件的連接使用傳統(tǒng)的高溫焊料 Pb92.5Sn5Ag2.5。
以上連接工藝均在傳統(tǒng)真空回流爐中完成。相比傳統(tǒng)Si基功率封裝模塊,這種采用AS9330銀燒結(jié)的SiC功率模塊的熱阻降低了40%,體積減小50%。由于燒結(jié)過程大面積基板的翹曲問題,SiC 基器件的源區(qū)焊接面并沒有使用銀燒結(jié),考慮到器件源區(qū)連接界面較接近SiC器件的結(jié)溫,該界面處可能更容易發(fā)生失效,所以采用對低壓輔助燒結(jié)或借助適當(dāng)治具有助于增加該界面的穩(wěn)定性,進(jìn)而實現(xiàn)一次全銀燒結(jié)。
二 雙面冷卻 SiC 功率模塊的制造工藝
1印刷銀焊膏
2貼片
3燒結(jié)銀焊膏
4引線鍵合
5端子焊接
6放置焊片
7真空回流焊接
8塑封
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